Функциональные возможности аппаратуры и ПО

Аппаратная часть :

С помощью встроенного измерительного прибора с сетью
стабилизации полного сопротивления линии, анализатора
спектра и предварительного усилителя выполняется контроль
электромагнитных помех продуктов перед предварительной
проверкой. Аппаратура компактная и переносная.

Программное обеспечение :

1. Профессиональное лабораторное стандартное измерительное
ПО с мощной программой анализа.
2. Измерительная программа обеспечивает отображение
одноразового сканирования оси частот в режиме LOG/LIN и
диапазоне от 9 кГц до 30 МГц.
3. Режимы измерения пиковых (PK), квазипиковых (QP),
усредненных (Ave) значений в соответствии со стандартом
CISPR 16-1.
4. Режим анализатора спектра. При пиковых (PK) измерениях
выполняется быстрое сканирование. Это позволяет
пользователям выполнять предварительную проверку и
анализ электромагнитных помех продуктов.
5. Пользователи могут определить контрольное значение, а
объем памяти для записи данных в режиме работы на базе
ПК можно расширять без ограничений.

Функциональные возможности компонентов подавления

1. Экспериментальные модули предназначены для изучения
электромагнитных помех и их подавления как метода борьбы
с ними. Имеется более 50 компонентов подавления, а в
руководстве описаны сотни экспериментальных режимов
подавления.
2. Компоненты подавления разработаны опытными специалистами
по интегрированной электромагнитной совместимости.
Пользователи могут с легкостью использовать различные
компоненты подавления для устранения электромагнитных
помех.
3. Сменные компоненты подавления с защитой от ошибок
являются расширяемыми, легко обслуживаются и
модифицируются.
4. Поставляются в прозрачном корпусе для удобства наблюдения
компонентов подавления.

Система EMC-100 содержит измерительный прибор (EMC-11001)
для обеспечения кондуктивных электромагнитных помех и
различные экспериментальные модули, поддерживающие
различные экспериментальные виды излучения.

Список экспериментов

1. Источник сигнала кондуктивных электромагнитных
помех
2-1 Источник кондуктивных помех без нагрузки.............EMC-13001
2-2 Источник кондуктивных помех сз нагрузкой ............EMC-13001

2. Эксперимент с фильтрацией источника питания и
кондуктивными электромагнитными помехами
3-1 Схема LC-фильтра........................................................EMC-13001
3-2 Схема фильтра первого порядка................................EMC-13001
3-3 Схема фильтра второго порядка ................................EMC-13001

3. Эксперимент с заземлением кондуктивных
электромагнитных помех

A. Компоненты фильтра, не подключенные в эксперименте
с заземлением питания

4-1 Измерение N-фазной проводимости........................EMC-13001
4-2 Измерение L-фазной проводимости ........................EMC-13001
4-3 Схема фильтра первого порядка ..............................EMC-13001
4-4 Схема фильтра второго порядка...............................EMC-13001

B. Эксперимент с заземлением вторичной цепи и питания

4-5 Измерение N-фазной проводимости вторичной цепи в
эксперименте с заземлением....................................EMC-13001
4-6 Измерение L-фазной проводимости вторичной цепи в
эксперименте с заземлением....................................EMC-13001
4-7 Схема фильтра первого порядка во вторичной цепи в
эксперименте с заземлением....................................EMC-13001
4-8 Схема фильтра второго порядка во вторичной цепи в
эксперименте с заземлением .....................................EMC-13001

4. Эксперимент с оптимизацией кондуктивных
электромагнитных помех
5-1 Выбор компонентов фильтра и составление схемы фильтра
.......................................................................................EMC-13001
5-2 Схема фильтра первого порядка.............................EMC-13001
5-3 Типичная схема фильтра первого порядка............EMC-13001
5-4 Схема фильтра второго порядка .............................EMC-13001

5. Источник сигнала индуктивных электромагнитных
помех
6-1 Эксперимент с источником помех, поиском среды и
измерительным прибором
6-2 Поиск источника индуктивных помех с модулем платы
горизонтальной разводки без нанесения меди
.......................................................................................EMC-14002
6-3 Поиск источника индуктивных помех с модулем платы
вертикальной разводки без нанесения меди
.......................................................................................EMC-14003
6-4 Поиск источника индуктивных помех с модулем платы с
нанесением меди .......................................................EMC-14004
6-5 Поиск источника индуктивных помех с модулем платы с
имитацией двух разных подложек ..........................EMC-14005

6. Эксперимент с компонентами подавления
индуктивных электромагнитных помех

7-1 Измерение источника индуктивных помех.............EMC-14002
7-2 Однокомпонентное подавление...............................EMC-14002
7-3 Сочетание компонентов подавления ......................EMC-14002
7-4 Схема подавления n-типа.........................................EMC-14002
7-5 Эксперимент по выбору материала компонентов
подавления ..................................................................EMC-14002
7-6 Эксперимент с ферритовым кольцом и развязывающими
конденсаторами ..........................................................EMC-14002

7. Эксперимент с заземлением индуктивных
электромагнитных помех

8-1 Измерение источника индуктивных помех для схемы без
нанесения меди (EMC-14003) и для незаземленной схемы с
нанесением меди (EMC-14004)
A. Эксперимент с нанесением меди без заземления
8-2 Однокомпонентное подавление...............................EMC-14004
8-3 Сочетание компонентов подавления ......................EMC-14004
8-4 Схема подавления n-типа.........................................EMC-14004
B. Эксперименты с заземлением и компонентами подавления с
фильтром
8-5 Незаземленная схема с нанесением меди и заземленная
схема с нанесением меди.........................................EMC-14004
8-6 Заземленная схема с нанесением меди и однокомпонентное
подавление ..................................................................EMC-14004
8-7 Сочетание компонентов подавления ......................EMC-14004
8-8 Заземленная схема с нанесением меди и схема подавления
π-типа...........................................................................EMC-14004

8. Эксперимент с экранированием электромагнитных помех
A. Эксперимент с экранированием
9-1 Эксперимент с экранированием без нанесения меди
............................................................................................EMC-14003
9-2 Эксперимент с экранированием с нанесением меди
............................................................................................EMC-14004
B. Эксперимент с экранированием и заземлением
9-3 Эксперимент с экранированием и заземлением
(с компонентом подавления).........................................EMC-14004

9. Эксперимент по оптимизации излучаемых
электромагнитных помех
10-1 Однокомпонентное подавление .................................EMC-14005
10-2 Сочетание компонентов подавления.........................EMC-14005
10-3 Схема подавления -типа .........................................EMC-14005
10-4 Эксперимент с заземлением ......................................EMC-14005
10-5 Эксперимент с экранированием.................................EMC-14005

EMC-100 Учебная система EMI